Перед учеными-нанотехнологами давно возникла сложная задача по диагностике и прогнозированию материалов. С помощью электронных микроскопов и атомных зондов можно осуществлять классификацию атомов в тонком слое материала или его небольшой области в более толстых слоях. Но до сих пор картирование составляющих наноструктур в объектах крупных размеров сделать не удавалось.
Юкио Такахаси (Университет Осака, Япония) с группой коллег (Университет Нагойя, центр RIKEN SPring-8) получили первое двумерное изображение наноструктуры, которая заключена в материал крупного размера. На основе их достижения была разработана новая система дифракционной рентгеновской микроскопии, в которой не используются линзы. Главной задачей ученых и стало создание такого микроскопа, который обладает высоким разрешением, увеличенным полем обзора. При этом исследователи воспользовались методикой дифракционной рентгеновской визуализации (птихографией).
Объединив данную методику с излучением, зеркалами Киркпатрика-Баеза, ученые получили дифракционные высококачественные данные. Они надеются, что изобретенную ими методику будут использовать в материаловедении и биологических исследованиях.